深圳市易捷测试技术有限公司

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 1）光电探测器参数自动测试系统为易捷测试专门为PD类光电探测器芯片开发的一套完整集IV、CV、光响应度等测试应用一站式在片测试系统。主要应用于解决PD类芯片的研发和自动化筛选测试。系统集成的源自于易捷测试在光电模块、光电器件到封装以及探针台领域多年的测试经验。
 2）伴随400G、100G通信的到来，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件从特征性能都需要极大提高。从芯片到封装好的器件特征必须通过相应的参数来衡量相应的O/E和E/O参数。如3dB带宽、S参数、光波长响应度，接收灵敏度等。该系统就是集成矢网、光调制器、光校准件、探氵针台，易捷测试技术,硅光子光电芯片测试价格
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 1）B1500A
 2)B2901A
 3)E4980A/AL
 4)N7744A
 5)N4373D
 6)N7786B
 7)ES操作系统
 8）TS2000
 17）PHA-X
 18）G-O4766A
 19）G-OR
 20）G-CCAF
 21）TS3000-Siph
 


 1）半导体参数分析仪
 2)电源/测量单元
 3)LCR表
 4)光功率计
 5)光波元器件分析仪
 6)偏振综合仪
 7)光电探测器参数自动测试系统
 8）自动探针台
 9）光学测试和测量平台，经过优化，可以经济高效地开发和制造光传输网络元件。
 10）为光学器件和子系统开发和制造中的光学测试切换和信号调理提供灵活，主性价比测试平台
 11）光学开关解决方案
 12（光信号调节器）
 13（光连接器和无源件测试）
 14（光功率和光谱测量）
 15（光信号交换和路由）
 16（宽带光源和放大器）
 17（网络分析仪）
 18（光调制器）
 19（光接收机）
 20（连接的电缆和光纤）
 21(全自动硅光子器件特性专用探针台系统）

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