深圳市易捷测试技术有限公司

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 易捷测试半导体在片测试系统集成解决方案：
 1）晶圆级抗X射线辐照系统
 2）毫米波多功能MMIC自动测试
 3）射频在片测试 
 4）半导体在片测试系统
  5）光子芯片在片测试
  6）EMMI测试系统，
 7）太赫兹半导体在片测试系统
 8）可靠性测试 
 9）失效分析 
 10）直流参数测试 
 11）小信号测试 
 12）大信号测试
 


 型号：
 1，PHA-X/PNA/PNA-L/PXIVNA
 2，Keysight X系列，BSA
 3，Keysight infinivision系列、Infiniium系列
 4，E4900/E4991B
 5，B1500A
 6，MPI TS300|TS200|TS200L
 7，GX200
 8，N5261A
 9，T110
 

 毫米波探针台：TS-150THZ  150mm手动探针台
准确无误mm-wave毫米波和亚毫米波太赫兹（THz）频率范围内的测量单机多应用设计。无缝整合各种宽带毫米波模块，适合多种微波/毫米波应用测试。
 
 

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 硅光子自动探针系统： TS3000-SiPH
 

 **的硅光子自动测试解决方案
  
 

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 200mm自动探针台：TS2000-SE   
 精准可靠的射频和微波测量，失效分析，可靠性测试
 


 1,网络分析仪
 2,信号分析仪
 3，示波器
 4，阻抗分析仪
 彳5，半导体参数分析仪
 6，探针台
 7，晶圆级抗辐照电路测试系统
 8，频率扩展模块
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 10，高精度电动探针座
 11，在片测试软件

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